Kernel / Linux · 2023年12月15日

VBUS浮电产生原因（ChargeIC）

内部IC， 电流是从Q1PUMP电压经过charge pump流入BUS PIN。具体为:在Q1pump模块中有M1和M2接在PUMP和BUS之间，正常工作时M1和M2不会同时打开，但是在READY从高变低或者由低变高的过程中，M1和M2有短时弱导通的可能性，这样就会有一些电荷泄露到BUSPIN上。

开机开启IC的内部ADC连续采样，导致VBUS上有偶发性的电平触发

解决方案：

1.修改外围硬件电路

2.停用IC的ADC采样

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